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New structure for a six-port reflectometer in monolithic microwave integrated-circuit technology

机译：单片微波集成电路技术中的六端口反射仪的新结构

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Frank Wiedmann; Bernard Huyart; Eric Bergeault; Louis Jallet;
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年度 1997
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1. New structure for a six-port reflectometer in monolithic microwave integrated-circuit technology [J] . Wiedmann F., Huyart B. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement . 1997,第2期

机译：单片微波集成电路技术中的六端口反射仪的新结构
2. The Circuit and Network Analysis of Some Signal Separation Structures Constituting Microwave Six-Port Reflectometers [J] . R. Pi?a Pi?a, A. Due?as Jiménez, C. A. Bonilla Barragán Universal Journal of Electrical and Electronic Engineering . 2014,第4期

机译：微波六端口反射仪的某些信号分离结构的电路和网络分析
3. Microwave diversity imaging using six-port reflectometer [J] . Hsin-Chia Lu, Tah-Hsiung Chu IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques . 1999,第1期

机译：使用六端口反射仪的微波分集成像
4. New structure for a six-port reflectometer in MMIC technology [C] . Wiedmann, F., Huyart, . 1996

机译：采用MMIC技术的六端口反射仪的新结构
5. Non-contacting six-port reflectometers for in-situ measurement of microwave circuit modules. [D] . Hui, Dan. 2008

机译：非接触式六端口反射仪，用于微波电路模块的现场测量。
6. Monolithic Microwave-Microfluidic Sensors Made with Low Temperature Co-Fired Ceramic (LTCC) Technology [O] . Karol Malecha, Laura Jasińska, Anna Grytsko, 2019

机译：采用低温共烧陶瓷（LTCC）技术制成的单片微波微流体传感器
7. New Structure for a Six-Port Reflectometer in Monolithic Microwave Integrated-Circuit Technology [O] . Wiedmann, Frank, Huyart, Bernard, Bergeault, Eric, 1997

机译：整体微波集成电路技术中六端口反射仪的新结构
8. Semiconductor Measurement Technology: Test Structure Implementation Document: DCParametric Test Structures and Test Methods for Monolithic Microwave Integrated Circuits (MMICs) [R] . Schuster, C. E. 1995

机译：半导体测量技术：测试结构实施文档：单片微波集成电路（mmIC）的直流参数测试结构和测试方法

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